HP4339A高阻測(cè)試儀Agilent 4339BHP4339B
HP4339A 高阻測(cè)試儀(Agilent 4339B/HP4339B)是一款用于高電阻和低電流測(cè)量的單通道解決方案,廣泛應(yīng)用于電子元件、材料以及電路測(cè)試等領(lǐng)域。
該設(shè)備具有極寬的測(cè)量范圍,從 1×10³Ω 到 1.6×10¹⁶Ω,能夠滿足多種不同電阻值的測(cè)量需求。其測(cè)試信號(hào)電流低且可選擇,范圍為 1μA 到 10mA,適合在低電流條件下對(duì)機(jī)電元件的低阻特性進(jìn)行表征。此外,HP4339A 配備了 1kHz 的交流測(cè)試信號(hào),可以有效消除由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸引入的潛在誤差,尤其適用于檢查電池內(nèi)阻。
在測(cè)量速度方面,HP4339A 表現(xiàn)卓越,其高速測(cè)量時(shí)間僅為 10ms。設(shè)備還具備內(nèi)設(shè)比較器和 HP-IB/處理器接口,能夠與自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)組成測(cè)量系統(tǒng),從而大幅縮短生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間。自動(dòng)測(cè)量功能則可以在進(jìn)行大量連續(xù)測(cè)試時(shí),自動(dòng)選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。
HP4339A 還提供了多種實(shí)用功能,如接觸檢查功能,可檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障;測(cè)試序列編程功能,可控制一系列電阻測(cè)量。此外,設(shè)備還支持電阻率計(jì)算、接地 DUT 測(cè)量等功能。
HP4339A 高阻測(cè)試儀以其高性能和多功能性,為用戶提供了一種高效、可靠的高阻測(cè)量解決方案,適用于多種復(fù)雜的應(yīng)用場(chǎng)景。
HP4339A高阻測(cè)試儀Agilent 4339BHP4339B




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